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          薄膜厚度测量仪的测量方法
          点击次数:90 发布时间:2021-12-24
            薄膜厚度测量仪可广泛适用于薄膜及其他片状材料的厚度测定,还可以检测薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度,是一款智能化效率高、实验效率高、实验准确度高的理想检测设备。
            采用激光测量位移差的方式,测量薄膜在一定张力下的表面平整度,并根据设定规则自动识别坏品。张力测量模块由一个激光位移传感器、驱动机构组成。通过可调张力张紧薄膜被测物后,驱动机构带动位移传感器横向来回扫描,得到膜片横向的高度差,根据转换关系转换成张力均匀性差异。
            薄膜厚度测量仪的测量方法:
            1、设置好的实验参数、实验次数等参数信息;
            2、点击开始试验键,开始实验;
            3、不在测量头与砧板间放置任何物体,点击确定,测量头自动落下后可与砧板直接接触;
            4、当测量头再次抬起时,按照设备提示,将试样放置在测量头与砧板之间,点击确定;
            5、测量头自动落到试样表面进行测试,并显示测试结果;
            6、此后,可手动或由设备移动试样,完成剩余测试;
            7、保存并打印实验结果。
            实际使用过程中,由于环境温度及湿度在不停变化,射线强度、射线感应器性能也随时间缓慢漂移。要把该测量原理应用到工业场合,提高测量精度,需要在该模型中实时加入温修补偿机制。
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