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        1. 產品列表PRODUCTS LIST

          首頁>產品中心>>XRF涂層厚度測量儀>O系列博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 O系列
          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 O系列

          簡要描述:

          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 O系列采用毛細管光學結構,擁有精準的測試性能,同時能實現極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細管結構取代了安裝在博曼標準機型中的準直器組件。由于多導毛細管可以傳遞數百倍的能量信號,可以有效提高到達樣品表面的入射X射線強度。O系列配備高分辨率的SDD探測器,在短時間內捕捉并處理大量數據,在短時間內滿足極小斑點的測量的同時獲取精準的測量結果(準確性和重復性)。

          更新時間:2020-03-06

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          博曼O系列產品概述:

          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 O系列采用毛細管光學結構,擁有精準的測試性能,同時能實現極小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細管結構取代了安裝在博曼標準機型中的準直器組件。由于多導毛細管可以傳遞數百倍的能量信號,可以有效提高到達樣品表面的入射X射線強度。O系列配備高分辨率的SDD探測器,在短時間內捕捉并處理大量數據,在短時間內滿足極小斑點的測量的同時獲取精準的測量結果(準確性和重復性)。

          該系列采用80μm毛細管光學結構,同時配備可處理更高計數速率的高分辨率SDD硅漂移探測器。O系列的相機具有更大的放大倍數,擁有45x視頻放大和5x數碼變焦。一個可編程的XY樣品臺也是標準配置。O系列的焦距非常接近,所以使用時樣品必須平整。

           

          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 O系列可滿足以下類型用戶的需求:

          - 極小的樣品,如半導體,連接器或PCB

          - 需要測試多個樣品的多個位置

          - 需要測量非常薄的涂層(<100nm)

          - 需要在短時間內完成測量(1-5秒)

          - 符合IPC-4552A

           

          博曼O系列產品參數:

          類別

          參數

          元素測量范圍:

          X射線管:

          探測器:

          分析層數及元素數:

          濾波器/準直器:

          焦距:

          數字脈沖器:

          計算機:

           

          相機:

          電源:

          重量:

          可編程XY平臺:

          樣品倉尺寸:

          外形尺寸:

          13號鋁元素到92號鈾元素

          50 W鉬鈀射線管 80um毛細管光學結構

          135eV及以上分辨率的硅漂移探測器

          5層(4層+基材) 每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素

          2位置一次過濾器

          固定焦距(0.1")

          4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正

          英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位

          1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率,250X雙攝像頭或45X單攝像頭

          150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

          53kg

          平臺尺寸:15"x 13"| 行程:6"x 5"

          高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:340mm(13")

          高度:450mm(18"),寬度:450mm(18"),深度:600mm(24")

           

          關于美國博曼:

          美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和先進的軟件系統,可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統也可以測量高熵合金(HEAs)。

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