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        1. 產品列表PRODUCTS LIST

          首頁>產品中心>>XRF涂層厚度測量儀>B系列博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列
          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列

          簡要描述:

          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式,配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。樣品倉采用開槽配置,但沒有可編程的XY樣品臺。

          更新時間:2020-03-06

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          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列產品概述:

          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式,配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。樣品倉采用開槽配置,但沒有可編程的XY樣品臺。

          B系列標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可升級為包括多個準直器,可變焦點相機和SDD探測器。

           

          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列

          可滿足以下類型用戶的需求:

          - 樣品測試量相對較小

          - 樣品僅需測量一個位置

          - 大型線路板鍍層的抽檢

          - 預算有限但希望日后儀器性能能有所提升

          - 符合IPC-4552A

           

          博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀 B系列產品參數:

          類別

          參數

          元素測量范圍:

          X射線管:

          探測器:

          分析層數及元素數:

          濾波器/準直器:

          焦距:

          數字脈沖器:

          計算機:

           

          相機:

          電源:

          重量:

          馬達控制/可編程XY平臺:

          延伸可編程XY平臺:

          樣品倉尺寸:

          外形尺寸:

          13號鋁元素到92號鈾元素

          50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢鈀射線管

          190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器

          5層,每層可分析10種元素,成分分析至多可分析25種元素

          4位置一次過濾器/單規格準直器

          激光固定焦距(可選多焦點)

          4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正

          英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位

          1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

          150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

          34kg

          不可用

          不可用

          高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:335mm(13")

          高度:450mm(18"),寬度:450mm(18"),深度:600mm(24")

           

          關于美國博曼:

          美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業經驗。博曼XRF系統搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和先進的軟件系統,可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統也可以測量高熵合金(HEAs)。

           

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