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        1. 产品列表PRODUCTS LIST

          首页>产品中心>>XRF涂层厚度测量仪>G系列博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列
          博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列

          简要描述:

          博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列是博曼的一款机型。该机型机构紧凑,没有可移动部件。与博曼其他系列不同,该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上,并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小,可手动调整样品位置测量样品,该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。

          更新时间:2020-03-06

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          博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列产品概述:

          G系列是博曼的一款机型。该机型机构紧凑,没有可移动部件。与博曼其他系列不同,该系列X射线照射方式采用自下往上式。用户可将样品放置在一个清晰的测试窗口上,并使用相机对图像进行定位。G系列的样品仓较小,可手动调整样品位置测量样品,该系列主要应用于珠宝和其他贵金属行业的镀层分析与应用。

          G系列标准配置包括一个固定准直器,一个固定焦距的相机,固态PIN探测器和质量可靠的微聚焦X射线管。与其他型号一样,该型号也可升级为包括多个准直器,可变焦点相机和SDD探测器。

          博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列

          可满足以下类型用户的需求:

          - 样品测试量相对较小

          - 客户或供应商对于镀层提出了新要求

          - 主要分析珠宝或其他贵金属

          - 预留摆放空间小

          - 预算有限

           

          博曼(Bowman)XRF镀层测厚仪G系列产品参数:

          类别

          参数

          元素测量范围:

          X射线管:

          探测器:

          分析层数及元素数:

          滤波器/准直器:

          焦距:

          数字脉冲器:

          计算机:

           

          相机:

          电源:

          重量:

          马达控制/可编程XY平台:

          延伸可编程XY平台:

          样品仓尺寸:

          外形尺寸:

          13号铝元素到92号铀元素

          50 W(50kV和1mA)微聚焦钨钯射线管

          190eV及以上分辨率的Si-PIN固态探测器

          5层,每层可分析10种元素,成分分析至多可分析25种元素

          4位置一次过滤器/双规格准直器

          激光单定焦距

          4096 多通道数字处理器,自动死时间和逃逸峰校正

          英特尔, 酷睿 i5 3470 处理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 内存, 微软 Windows 10 专业版, 64位

          1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

          150W,100-240V,频率范围为47Hz至63Hz

          25kg

          不可用

          不可用

          高度:125mm(5"),宽度:380mm(15"),深度:300mm(12")

          高度:400mm(16"),宽度:400mm(16"),深度:380mm(15")

           

          关于美国博曼:

          美国博曼(Bowman)是高精度台式镀层测厚仪供应商,拥有近40年的行业经验。博曼XRF系统搭载拥有自主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统,可精准高效地分析金属镀件中元素厚度和成分。博曼XRF系统可同时测量包含基材在内的五层元素,其中任何两层元素可以是合金。同时,博曼XRF系统也可以测量高熵合金(HEAs)。

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